? ? ? ?超聲波膜厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。涂層測(cè)厚儀：涂層測(cè)厚儀有渦流法涂層測(cè)厚儀和磁性法涂層測(cè)厚儀，本站有兩種涂層測(cè)厚儀的工作原理，本文不再贅述。所以不論是采用超聲波還是磁性法、渦流法的測(cè)厚儀都是可以對(duì)物體表面的涂層進(jìn)行測(cè)量的，而且都是通過表面探頭對(duì)物體進(jìn)行厚度測(cè)量，即超聲波膜厚儀與涂層測(cè)厚儀在某種程度上來說，是一致的?？墒聦?shí)上來說，超聲波膜厚儀與涂層測(cè)厚儀的區(qū)別還是很大的，它們的區(qū)別如下：
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涂層測(cè)厚儀

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1、超聲波膜厚儀探頭需要使用合適的耦合劑，以及是適量的耦合劑；而涂層測(cè)厚儀探頭在使用過程中是不需要使用耦合劑的。

2、超聲波膜厚儀是使用超聲波對(duì)物體厚度進(jìn)行測(cè)量，需要選擇合適的聲速；而涂層測(cè)厚儀不論是磁性法還是渦流法測(cè)厚儀都不需要選擇聲速。

3、超聲波膜厚儀與涂層測(cè)厚儀的工作原理不同。

4、超聲波膜厚儀在測(cè)量涂層厚度時(shí)，該涂層為單一化學(xué)組成的涂層（方便選擇聲速），而涂層測(cè)厚儀在測(cè)量涂層厚度時(shí)，需要注意基體性質(zhì)（Fe和NFe基體），而且對(duì)涂層的電性質(zhì)有一定的要求。

5、超聲波膜厚儀的測(cè)量范圍要比涂層測(cè)厚儀更廣，涂層測(cè)厚儀的測(cè)量范圍一般在0-1250μm之間。

6、超聲波膜厚儀一般國(guó)內(nèi)較少生產(chǎn)，且價(jià)格較高，而涂層測(cè)厚儀相對(duì)來說國(guó)內(nèi)有很多廠家生產(chǎn)，且大多數(shù)價(jià)格較低。

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? ? ? ?盡管超聲波膜厚儀與涂層測(cè)厚儀在測(cè)量物體涂層厚度時(shí)，都是使用探頭測(cè)量、都對(duì)物體表面的粗糙度有一定的要求、都需要在測(cè)量之前進(jìn)行儀器校準(zhǔn)等等相同之處，但兩者的本質(zhì)和很多使用方法上還是有不同的。在進(jìn)行物體涂層厚度的測(cè)量時(shí)，涂層測(cè)厚儀的使用顯得更為簡(jiǎn)單，性價(jià)比也較高，能夠滿足大部分物體涂層厚度的測(cè)量，而且涂層測(cè)厚儀精度也較高，無論是操作還是校準(zhǔn)速度都快。整體上來說，超聲波膜厚儀與涂層測(cè)厚儀有相同點(diǎn)也有很大的區(qū)別。

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